prikaz prve stranice dokumenta Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
  Download
PDF 10.92 MB
undergraduate thesis
Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
Osijek: Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics, 2023. urn:nbn:hr:160:665540
Bakšaj, Ana
Josip Juraj Strossmayer University of Osijek
Department of Physics

Institutional repository: Repository of Department of Physics in Osijek

Cite this document

Bakšaj, A. (2023). Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma (Undergraduate thesis). Osijek: Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics. Retrieved from https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, Ana. "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma." Undergraduate thesis, Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics, 2023. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, Ana. "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma." Undergraduate thesis, Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics, 2023. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj, A. (2023). 'Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma', Undergraduate thesis, Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics, accessed 02 December 2024, https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Bakšaj A. Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma [Undergraduate thesis]. Osijek: Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics; 2023 [cited 2024 December 02] Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

A. Bakšaj, "Pretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma", Undergraduate thesis, Josip Juraj Strossmayer University of Osijek, Department of Physics, Osijek, 2023. Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:160:665540

Metadata
TitlePretražna elektronska mikroskopija u uvjetima niskog vakuma
Title (english)SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN LOW VACUUM CONDITIONS (LOW VACUUM SEM)
AuthorAna Bakšaj
MentorDomagoj Belić (mentor)
Committee memberDomagoj Belić (predsjednik povjerenstva)
Committee memberMarina Poje Sovilj (član povjerenstva)
GranterJosip Juraj Strossmayer University of Osijek
Department of Physics
Osijek
Defense date and country2023-09-21, Croatia
Scientific / art field,
discipline and subdiscipline		NATURAL SCIENCES
Physics
Condensed Matter Physics
Abstract
Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) postao je nezamjenjiv alat za analizu različitih materijala, uključujući metale, polimere, keramiku i drvo. Njegove bitne komponente uključuju izvor elektrona, elektromagnetske leće i detektore. JEOL SEM, moderan i široko korišten instrument, služi za akademska i industrijska istraživanja, kontrolu kvalitete i različite znanstvene primjene. U ovom radu usporedili smo SEM slike dobivene u području niskog vakuuma (LV SEM) i visokog vakuuma (HV SEM) koristeći JSM-IT200 JEOL SEM za skeniranje slabo vodljivih uzoraka drva i natrijevog klorida pri različitim povećanjima i mjerilima. Rezultati su otkrili da je HV SEM proizvodio svjetlije, ali zamućene slike, posebno za drvo, dok je LV SEM nudio višu rezoluciju, posebno za drvo. Nakon povećanja (x50 do x500), jako uvećani uzorci postali su mutniji i manje detaljni. LV SEM pokazao je značajno bolje karakteristike površine. Stoga je LV SEM dosljedno proizvodio vrhunske slike slabo vodljivih uzoraka, osobito pri malom povećanju,što je tema ovog završnog rada.
Abstract (english)
The Scanning Electron Microscope (SEM) has become indispensable for analyzing various materials, including metals, polymers, ceramics, and wood. Its essential components include the electron source, electromagnetic lenses, and detectors. The JEOL SEM, a modern and widely used instrument, caters to academic and industrial research, quality control, and diverse scientific applications. This study compared low vacuum SEM (LV SEM) and high vacuum SEM (HV SEM) using the JSM-IT200 JEOL SEM to scan poorly conductive wood and sodium chloride samples at different magnifications and scales. The results revealed that HV SEM produced brighter but blurred images, particularly for wood, while LV SEM offered higher resolution, especially for wood. Upon magnification (x50 to x500), highly magnified samples became more blurred and less detailed. LV SEM exhibited significantly better surface features. Thus, LV SEM consistently produced superior images of poorly conductive samples, particularly at low magnification, making it the preferred choice for this study.
Keywords
Keywords (english)
Languagecroatian
URN:NBNurn:nbn:hr:160:665540
Study programmeTitle: Physics
Study programme type: university
Study level: undergraduate
Academic / professional title: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike)
Type of resourceText
File originBorn digital
Access conditionsOpen access
Terms of useLicence In copyright icon
Created on2023-09-26 10:00:34