prikaz prve stranice dokumenta Masena spektometrija sekundarnih iona
Access restricted to students and staff of home institution
undergraduate thesis
Masena spektometrija sekundarnih iona
Rijeka: University of Rijeka, 2020. urn:nbn:hr:194:247239
Omazić, Zvonimir
University of Rijeka
Faculty of Physics

Institutional repository: Repository of the University of Rijeka, Faculty of Physics

Cite this document

Omazić, Z. (2020). Masena spektometrija sekundarnih iona (Undergraduate thesis). Rijeka: University of Rijeka. Retrieved from https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Zvonimir. "Masena spektometrija sekundarnih iona." Undergraduate thesis, University of Rijeka, 2020. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Zvonimir. "Masena spektometrija sekundarnih iona." Undergraduate thesis, University of Rijeka, 2020. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić, Z. (2020). 'Masena spektometrija sekundarnih iona', Undergraduate thesis, University of Rijeka, accessed 23 November 2024, https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Omazić Z. Masena spektometrija sekundarnih iona [Undergraduate thesis]. Rijeka: University of Rijeka; 2020 [cited 2024 November 23] Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Z. Omazić, "Masena spektometrija sekundarnih iona", Undergraduate thesis, University of Rijeka, Rijeka, 2020. Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:194:247239

Metadata
TitleMasena spektometrija sekundarnih iona
Title (english)Secondary ion mass spectometry
AuthorZvonimir Omazić
MentorIvana Jelovica Badovinac (mentor)
Committee memberRobert Peter (predsjednik povjerenstva)
Committee memberIvana Jelovica Badovinac (član povjerenstva)
Committee memberIva Šarić (član povjerenstva)
GranterUniversity of Rijeka
(Faculty of Physics)
Rijeka
Defense date and country2020-09-29, Croatia
Scientific / art field,
discipline and subdiscipline		NATURAL SCIENCES
Physics
Abstract
U ovom radu opisana je masena spektrometrija sekundarnih iona (SIMS) te njene prednosti u odnosu na druge spektrometrijske tehnike. Objašnjeni su osnovni principi na kojima se zasniva ova tehnika, kao što su stvaranje sekundarnih iona i erodiranje uzorka. Navedeni su različiti načini rada kod masene spektrometrije sekundarnih iona i mogućnosti svakoga od njih. Također su opisane i komponente potrebne za SIMS analizu, odnosno osnovni dijelovi SIMS instrumenta. Na kraju su dani primjeri koji pokazuju koje sve informacije o uzorcima i u kojem obliku možemo dobiti ovom tehnikom.
Keywords
Languagecroatian
URN:NBNurn:nbn:hr:194:247239
Study programmeTitle: bacc. physics
Study programme type: university
Study level: undergraduate
Academic / professional title: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike)
Type of resourceText
File originBorn digital
Access conditionsAccess restricted to students and staff of home institution
Terms of useLicence In copyright icon
Created on2020-10-19 11:24:23