U ovom radu dan je teorijski uvod u fiziˇcke efekte u spektroskopiji karakteristiˇcnim X-zrakama (XRF), eksperimentalni postav i teoriju fundamentalnih parametara te je opisan naˇcin rada programskog koda (danog u prilogu) koji se tiˇce kalibracije na primjeru XRF sustava u Laboratoriju za elementnu mikroanalizu Odjela za fiziku Sveuˇcilišta u Rijeci. Kronološki je objašnjen proces kalibracije tankih standarda, a potom su rezultati iskorišteni u analizi metalnih legura (debelih standarda) kako bi se ispitao uˇcinak sekundarne fluorescencije u uzorcima. Efekti sekundarne fluorescencije u kvantitativnoj XRF analizi zanemarivi su u tankim metama, no u sluˇcaju debelih meta nužne su korekcije intenziteta karakteristiˇcnih X-zraka. Programski paket VIBA-Lab pisan u Javi nudi mogu´cnost kalibracije sustava na standardima i kvantitativne XRF analize nepoznatih uzoraka na temelju teorije fundamentalnih parametara. Pri kraju rada su, pomo´cu Java programskog koda implementiranog u VIBA-Lab, izrad¯ene simulacije kalibracijskih krivulja za željezo u raznim binarnim matricama kako bi se bolje pojasnilo na koji naˇcin djeluju sekundarni efekti, ali i efekti apsorpcije u matrici.