prikaz prve stranice dokumenta Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits
Rad nije dostupan
magistarski rad
Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits
Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2007. urn:nbn:hr:168:335496
Čeperić, Vladimir
Sveučilište u Zagrebu
Fakultet elektrotehnike i računarstva
Zavod za elektroniku, mikroelektroniku, računalne i inteligentne sustave

Institucijski repozitorij: Repozitorij FER-a

Citirajte ovaj rad

Čeperić, V. (2007). Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits (Magistarski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

Čeperić, Vladimir. "Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits." Magistarski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2007. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

Čeperić, Vladimir. "Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits." Magistarski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2007. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

Čeperić, V. (2007). 'Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits', Magistarski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 26.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

Čeperić V. Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits [Magistarski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2007 [pristupljeno 26.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

V. Čeperić, "Analysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits", Magistarski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2007. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:335496
Podaci o radu
NaslovAnalysis of Conducted Electromagnetic Emissions in Integrated Circuits
Naslov (hrvatski)Analiza vođenih elektromagnetskih smetnji u integriranim sklopovima
AutorVladimir Čeperić
MentorAdrijan Barić (mentor)
Član povjerenstvaAdrijan Barić (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Zagrebu
Fakultet elektrotehnike i računarstva
(Zavod za elektroniku, mikroelektroniku, računalne i inteligentne sustave)
Zagreb
Datum i država obrane2007, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		TEHNIČKE ZNANOSTI
Elektrotehnika
Elektronika
Univerzalna decimalna klasifikacija
(UDC)		621.3 - Elektrotehnika
Sažetak
Design of integrated circuits (IC) is a very complex task. One of the most critical steps in the design process is the estimation of electromagnetic compatibility (EMC) of the designed circuit. Electronic equipment has to comply with electromagnetic compatibility standards and integrated circuits are most often the root cause of disturbances in electronic systems. The standards regarding conducted EME (Electromagnetic Emission) and EMI(Electromagnetic Immunity) are measured and simulated as the first step towards achieving EM compatibility. Models suitable for simulations of EM emissions and immunity are developed and their accuracy is assessed. An EMC aware design procedure and effective circuit optimization strategy are demonstrated. An EMC test chip is designed in submicron CMOS technology, processed, measured and the measurement results are compared with simulations in order to demonstrate the validity and accuracy of models and procedures described in this thesis.
Sažetak (hrvatski)
Projektiranje integriranih sklopova vrlo je složen postupak. Jedan od najsloženijih zadataka u projektiranju integriranih sklopova je procjena elektromagnetske kompatibilnosti (EMC). Elektronički proizvodi moraju zadovoljiti standarde za elektromagnetsku kompatibilnost, a najčešći izvor i uzrok smetnji u elektroničkim sustavima su integrirani sklopovi. Da bi se ispitala elektromagnetska kompatibilnost integriranih sklopova u ovom su radu simulirani i mjereni standard za emisiju vođenih elektromagnetskih smetnji i standard za imunitet na vođene elektromagnetske smetnje. Razvijeni su modeli prikladni za simulaciju elektromagnetske emisije i imuniteta, te je procijenjena njihova točnost. Projektiranje elektromagnetski kompatibilnih integriranih sklopova pojednostavljeno je povezivanjem modela potrebnih za analizu elektromagnetske kompatibilnosti s optimizacijskim procedurama. Da bi se procijenila točnost takvih modela, projektirani su, procesirani i izmjereni integrirani sklopovi u submikrometarskoj CMOS tehnologiji i rezultati mjerenja uspoređeni su s rezultatima simulacija.
Ključne riječi
Ključne riječi (hrvatski)
Jezikengleski
URN:NBNurn:nbn:hr:168:335496
Studijski programNaziv: Elektrotehnika
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: poslijediplomski znanstveni (magistarski)
Akademski / stručni naziv: Magistar znanosti elektrotehnike (mag. ing. el.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaZatvoreni pristup
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2020-04-08 07:40:31