prikaz prve stranice dokumenta Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja
Pristup korisnicima matične ustanove
diplomski rad
Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja
Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije, 2021. urn:nbn:hr:149:112801
Raspor, Marija
Sveučilište u Zagrebu
Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije

Institucijski repozitorij: Repozitorij Fakulteta kemijskog inženjerstva i tehnologije Sveučilišta u Zagrebu

Citirajte ovaj rad

Raspor, M. (2021). Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

Raspor, Marija. "Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije, 2021. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

Raspor, Marija. "Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije, 2021. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

Raspor, M. (2021). 'Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije, citirano: 27.12.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

Raspor M. Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije; 2021 [pristupljeno 27.12.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

M. Raspor, "Određivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije, Zagreb, 2021. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:149:112801
Podaci o radu
NaslovOdređivanje parametara kristalne rešetke La1-xSrxMnO3 Rietveldovom metodom utočnjavanja
Naslov (engleski)Determination of La1-xSrxMnO3 crystal lattice parameters by Rietveld refinement
AutorMarija Raspor
MentorJelena Macan (mentor)
Član povjerenstvaJelena Macan (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaMarica Ivanković (član povjerenstva)
Član povjerenstvaAnamarija Rogina (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Zagrebu
Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije
Zagreb
Datum i država obrane2021-07-07, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		TEHNIČKE ZNANOSTI
Kemijsko inženjerstvo
Sažetak
Cilj ovog rada bio je odrediti parametre kristalne rešetke stroncijem dopiranih lantanovih manganita (La1-xSrxMnO3) Rietveldovom metodom utočnjavanja te usporediti uspješnost utočnjavanja korištenjem tri različita modela. Uzorci La1-xSrxMnO3 (x = 0, 0,1, 0,2, 0,3 i 0,5) pripremljeni su postupkom koprecipitacije nakon čega su karakterizirani rendgenskom difrakcijskom analizom (XRD). Eksperimentalno dobiveni podaci su utočnjavani s teorijskim Pseudo Voigt, Triple Pseudo Voigt te Thompson-Cox Pseudo Voigt modelima u softverskom paketu FullProf. Najbolje slaganje modela i eksperimentalnih podataka dobiveno je za Pseudo Voigt i Thompson-Cox Pseudo Voigt model. Triple Pseudo Voigt model dao je najlošije slaganje s eksperimentalnim podacima zbog prevelikog broja parametara koje model koristi za utočnjavanje zbog čega „zaluta“ u lokalne minimume.
Sažetak (engleski)
The aim of this research was to determine the crystal lattice parameters of strontium doped lanthanum manganites (La1-xSrxMnO3) by the Rietveld refinement method using three different methods. The La1-xSrxMnO3 samples (x = 0, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5) were prepared by the coprecipitation procedure, after which they were characterized by X-ray diffraction analysis (XRD). The experimentally obtained data were refined with theoretical Pseudo Voigt, Triple Pseudo Voigt and Thompson-Cox Pseudo Voigt models in the FullProf suite. The best refinement was achieved using Pseudo Voigt and Thompson-Cox Pseudo Voigt models. The Triple Pseudo Voigt model has shown the worst match with the experimental data due to the excessive number of parameters that the function uses for refinement, which makes it "stray" into the local minima.
Ključne riječi
Ključne riječi (engleski)
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:149:112801
ProjektŠifra: IP-2018-01-5246
Naziv: Nanokompoziti s perovskitima za fotovoltaike, fotokatalizu i senzoriku
Kratica: NanoPeroPhotoSens
Voditelj: Andreja Gajović
Pravna nadležnost: Hrvatska
Financijer: HRZZ
Linija financiranja: IP
Studijski programNaziv: Kemija i inženjerstvo materijala
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: diplomski
Akademski / stručni naziv: magistar/magistra inženjer/inženjerka kemijskog inženjerstva (mag. ing. cheming.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaPristup korisnicima matične ustanove
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2023-04-06 13:05:25