prikaz prve stranice dokumenta Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala
  Preuzmi
PDF 8.31 MB
diplomski rad
Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala
Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2024. urn:nbn:hr:217:711354
Šurina, Filip
Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
Fizički odsjek

Institucijski repozitorij: Repozitorij Prirodoslovno-matematičkog fakulteta

Citirajte ovaj rad

Šurina, F. (2024). Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

Šurina, Filip. "Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2024. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

Šurina, Filip. "Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2024. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

Šurina, F. (2024). 'Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, citirano: 22.03.2025., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

Šurina F. Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet; 2024 [pristupljeno 22.03.2025.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

F. Šurina, "Optimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, 2024. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:711354
Podaci o radu
NaslovOptimizacija parametara optičke litografije za transportnu karakterizaciju odabranih van der Waalsovih materijala
Naslov (engleski)Optimization of optical lithography parameters for transport characterization of selected van der Waals materials
AutorFilip Šurina
MentorMario Novak (mentor)
Član povjerenstvaMario Novak (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaEmil Tafra (član povjerenstva)
Član povjerenstvaZoran Rukelj (član povjerenstva)
Član povjerenstvaIvan Kupčić (član povjerenstva)
Član povjerenstvaDamir Pajić (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
(Fizički odsjek)
Zagreb
Datum i država obrane2024-09-27, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Sažetak
U ovom radu Bi2Sr2CaCu2O8+x (bizmut stroncij kalcij bakrov oksid) kristali su sintetizirani i optimalno dopirani kisikom na 550ºC tijekom 24 sata. Zbog svoje kvazidvodimenzionalne strukture, kristale je lako raslojiti (eksfolirati) na tanke listiće. Istražene su dvije metode mehaničke eksfolijacije, koristeći 3M Scotch ljepljivu traku i ljepljivu traku osjetljivu na UV svjetlost. Scotch traka je proizvela više listića, ali je ostavljala ljepilo na silicijskoj podlozi na koju se vršila... Više eksfolijacija. Dvije metode eksfolijacije uz pomoć su isprobane: toplinski i zlatom potpomognuta eksfolijacija, pri čemu je zlatom potpomognuta eksfolijacija dala najveći broj tankih listića. Nakon optimizacije parametara optičke litografije, izrađeni su zlatni kontakti s najtanjim značajkama širine 40 μm, ali polaganje uzoraka na kontakte nije bilo uspješno. Druga metoda kontaktiranja uključivala je lemljenje indijem, pri čemu je dobiven kontkatirani uzorak s otporom od (392 ± 2) kΩ. AFM mjerenja pokazala su da su eksfolirani monoslojni listići debljine 3-4 nm. Mjerenja transportnih svojstava makroskopskih (bulk) uzoraka Bi-2212 pokazala su linearan pad otpora do Tc = 90.8 K bez magnetskog polja. Sakrij dio sažetka
Sažetak (engleski)
In this study, Bi2Sr2CaCu2O8+x (bismuth strontium calcium copper oxide) crystals were synthesized and optimally doped with oxygen at 550 ºC for 24 hours. Due to their quasi-two-dimensional structure, the crystals are easily exfoliated into thin flakes. Two methods of mechanical exfoliation were investigated, using 3M Scotch tape and UV-sensitive adhesive tape. The Scotch tape produced more flakes, but left adhesive residue on the silicon substrate used for exfoliation. Two assisted... Više exfoliation methods were tested, thermal and gold-assisted exfoliation, with the gold-assisted exfoliation producing the largest number of thin flakes. After optimizing the optical lithography parameters, gold contacts with the thinnest features measuring 40 μm were fabricated, but the placement of the samples onto the contacts was unsuccessful. The second contact method involved soldering with indium, resulting in a contacted sample with a resistance of (392 ± 2) kΩ. AFM measurements showed that the exfoliated monolayer flakes were 3-4 nm thick. Transport measurements of macroscopic (bulk) Bi-2212 samples showed a linear decrease in resistance up to Tc = 90.8 K without a magnetic field. Sakrij dio sažetka
Ključne riječi
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:217:711354
Studijski programNaziv: Fizika; smjerovi: Istraživački
Smjer: Istraživački
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: integrirani prijediplomski i diplomski
Akademski / stručni naziv: sveučilišni magistar fizike (univ. mag. phys.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaOtvoreni pristup
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2025-01-31 13:03:58
accessibility

closePristupačnostrefresh

Ako želite spremiti trajne postavke, kliknite Spremi, ako ne - vaše će se postavke poništiti kad zatvorite preglednik.