prikaz prve stranice dokumenta In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama
  Preuzmi
PDF 50.71 MB
diplomski rad
In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama
Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2016. urn:nbn:hr:217:739274
Krajinović, David
Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
Fizički odsjek

Institucijski repozitorij: Repozitorij Prirodoslovno-matematičkog fakulteta

Citirajte ovaj rad

Krajinović, D. (2016). In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

Krajinović, David. "In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2016. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

Krajinović, David. "In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2016. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

Krajinović, D. (2016). 'In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, citirano: 22.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

Krajinović D. In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet; 2016 [pristupljeno 22.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

D. Krajinović, "In situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, 2016. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:739274
Podaci o radu
NaslovIn situ karakterizacija rasta slojevitih materijala na ravnim podlogama
Naslov (engleski)In situ characterization of layered materials growth on flat substrates
AutorDavid Krajinović
MentorMarko Kralj (mentor)
MentorNenad Pavin (mentor)
Član povjerenstvaNenad Pavin (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaMarko Kralj (član povjerenstva)
Član povjerenstvaGorjana Jerbić-Zorc (član povjerenstva)
Član povjerenstvaMirko Planinić (član povjerenstva)
Član povjerenstvaAna Sušac (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
(Fizički odsjek)
Zagreb
Datum i država obrane2016-03-08, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Sažetak
Glavni cilj ovog diplomskog rada je analiza rasta površine, duljine rubova i broja otoka MoS2 u realnom vremenu tijekom sinteze. Eksperiment u sklopu ovog rada proveden je na Institutu za fiziku u sklopu Centra izvrsnosti za napredne materijale i senzore. Značajni napori posvećeni su pripremi jednoslojnog MoS2. U sintezama MoS2 materijala usvojena je sulfurizacija MoO3 korištenjem metode depozicije iz kemijskih para (CVD). Ta je metoda najpraktičnija za rast većih površina kao što je to slučaj s grafenom. Rast otoka MoS2 praćen je i sniman putem in situ optičke vizualizacije. Sama obrada podataka odrađena je pomoću moćnog freeware programa za obradu slike ImageJ. Uz to je obrađena i sama teorijska pozadina obrade slike.
Sažetak (engleski)
The main goal of the thesis was an analysis of the surface area, the edge length and the number of MoS2 flakes in real time during synthesis. The experiments were performed at the Institute of Physics within the Center of Excellence for Advanced Materials and Sensing Devices. This work was focused on the preparation of single-layer MoS2. The synthesis of MoS2 layers was adopted via sulfurization of MoO3 precursor using the well-known method of chemical vapor deposition (CVD). This is a very practical method for the growth of materials over large areas, such as it is the case with graphene. The growth of MoS2 flakes is characterized in situ via optical visualization. Data processing and subsequent analysis was performed by using a powerful freeware program for image processing, ImageJ. Along with the analysis, a theoretical background of image processing was described.
Ključne riječi
Ključne riječi (engleski)
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:217:739274
Studijski programNaziv: Fizika i informatika; smjerovi: nastavnički
Smjer: nastavnički
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: integrirani preddiplomski i diplomski
Akademski / stručni naziv: magistar/magistra fizike i informatike (mag. educ. phys. et inf.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaOtvoreni pristup
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2017-03-03 22:30:13