prikaz prve stranice dokumenta Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona
  Preuzmi
PDF 20.09 MB
diplomski rad
Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona
Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2017. urn:nbn:hr:217:235853
Retkovac Šešelja, Ivana
Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
Fizički odsjek

Institucijski repozitorij: Repozitorij Prirodoslovno-matematičkog fakulteta

Citirajte ovaj rad

Retkovac Šešelja, I. (2017). Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona (Diplomski rad). Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet. Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

Retkovac Šešelja, Ivana. "Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

Retkovac Šešelja, Ivana. "Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona." Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, 2017. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

Retkovac Šešelja, I. (2017). 'Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona', Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, citirano: 18.11.2024., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

Retkovac Šešelja I. Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona [Diplomski rad]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet; 2017 [pristupljeno 18.11.2024.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

I. Retkovac Šešelja, "Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona", Diplomski rad, Sveučilište u Zagrebu, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, 2017. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853

Za citiranje koristite ovu mrežnu adresu: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:217:235853
Podaci o radu
NaslovDetekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona
Naslov (engleski)Heavy-ion detection by secondary electron emission
AutorIvana Retkovac Šešelja
MentorMilko Jakšić (mentor)
MentorDamir Bosnar (mentor)
Član povjerenstvaDamir Bosnar (predsjednik povjerenstva)
Član povjerenstvaMilko Jakšić (član povjerenstva)
Član povjerenstvaTomislav Marketin (član povjerenstva)
Član povjerenstvaDenis Sunko (član povjerenstva)
Član povjerenstvaMatko Milin (član povjerenstva)
Ustanova koja je dodijelila
akademski / stručni stupanj		Sveučilište u Zagrebu
Prirodoslovno-matematički fakultet
(Fizički odsjek)
Zagreb
Datum i država obrane2017-10-05, Hrvatska
Znanstveno / umjetničko
područje, polje i grana		PRIRODNE ZNANOSTI
Fizika
Sažetak
Detekcija teških iona pomoću emisije sekundarnih elektrona je od iznimne važnosti kod preciznih implantacija teških iona u materiju ili kod proizvodnje nanorupa u raznim polimerima. U ovom radu je napravljen eksperimentalni postav s dva elektronmultiplikatora ispred mete te jednim silicijskim detektorom iza mete. Korištene su četiri mete: zlato, dijamant, mylar i silicij-nitrid. Napravljena je iscrpna kalibracija sustava prije nego što su izmjerene efikasnosti detekcije sekundarnih elektrona za četiri različita snopa: Li+(E=1MeV), H+(E=2MeV) , He3+(E=4MeV) i O+(E=4MeV). Efikasnost ovakvog postava nije dobra za polimere kao što je mylar te keramike kao što je silicij-nitrid. Mjerenja su neprecizna zbog njihove strukture te je broj sekundarnih elektrona po ionu emitiranih iz tih materijala manji nego što je to slučaj kod zlata ili dijamanta. Kod ciljanoga istraživanja jedne mete ova metoda bi bila znatno bolje jer bi se tada mogla postići savršena simetrija. Također je primijećeno da je postav izuzetno osjetljiv na geometriju i simetričnost između dva detektora. Te očekivano je potvrđeno da za veću zaustavnu energiju se emitira više sekundarnih elektrona.
Sažetak (engleski)
Detection of heavy ions by secondary electron emission is of great importance in precise implantation of ions in matter or in nanoholes production in different polymers. In this paper an experimental setup was made with two channeltrons (electron multiplier) in front of the target and one silicon detector behind the target. Four targets were used: gold, diamond, mylar and silicon-nitride. Before the measurements were made the efficiency tests were performed. The efficiency of secondary electron detection was made on four targets with four different blocks: E = 4MeV (E = 1MeV), H+(E = 1MeV) and O+ (E = 4MeV). The efficiency of this setup is not good for polymers such as well as for ceramics such as siliconnitride. The measurements are imprecise due to their structure and the number of secondary electrons emitted per ion impacted on such material is lower than that of gold or diamond. Using one specific target would give significantly better results because perfect symmetry could then be achieved. It is also noticeable that the setting is extremely sensitive to geometry and symmetry between the two detectors. As expected, it was confirmed that greater the stopping power is the number of secondary electrons emitted is greater.
Ključne riječi
Ključne riječi (engleski)
Jezikhrvatski
URN:NBNurn:nbn:hr:217:235853
Studijski programNaziv: Fizika; smjerovi: istraživački
Smjer: istraživački
Vrsta studija: sveučilišni
Stupanj studija: integrirani preddiplomski i diplomski
Akademski / stručni naziv: magistar/magistra fizike (mag. phys.)
Vrsta resursaTekst
Način izrade datotekeIzvorno digitalna
Prava pristupaOtvoreni pristup
Uvjeti korištenjaIkona licence Zaštićeno autorskim pravom.
Datum i vrijeme pohrane2017-10-11 10:33:49